Mõõtevea allikad

Mõõtevead sugenevad kolme sorti allikaist:

• mõõteriist
• mõõtmisprotseduur
• mõõdetav objekt.

Mõõteriistast tingitud vead on seotud riista omadustega. Näiteks võivad vead tulla sellest, et skaalajaotised pole täpselt võrdsed; osuti ja skaalajaotised on lõpliku laiusega; elektroonses riistas toimub tulemuse ümardamine jne.

Mõõteriista ebatäpsusega seotud viga on suhteliselt lihtne arvestada. Enamasti on mõõteriistale peale märgitud maksimaalne võimalik viga. Kui nii ei ole, siis reeglina ei ületa viga skaala kõige väiksema jaotise poolt väärtust. Näiteks pikkuse mõõtmisel millimeeterjoonlauaga võib maksimaalseks veaks lugeda 0,5 mm.